MOSFET在电子产品扮演「开关插座」的角色由来已久,来自于它具备高开关切换速度,低输入阻抗与低功率耗损之特性,不仅可承受大电流、亦可提高电路转换效率,也使得MOSFET成为功率组件中的重要角色。
而各家MOSFET厂商也都以追求高效率的电力转换、低功率耗损为目标。为达此一目标的快捷方式,就是降低RDS(on)(导通阻抗)。
此方式是过去10年来一直在努力的,ProPowertek宜锦观察发现,从各家MOSFET大厂,在这几年也都开发出不同型式的低导通阻抗MOSFET,例如英飞凌(Infenion)的CoolMOS利用多层磊晶堆栈技术;意法半导体(STMicroelectronics)的MDMesh、东芝(Toshiba)的DTMOS、 快捷半导体(Fairchild)的SuperMOS都是利用深沟槽回填技术;而安森美(OnSemi)的UltiMOS则是利用深沟槽回填搭配Liner oxide的设计,去形成Super Junction,来提高N-type Epi的浓度,却又维持空乏区的深度,让RDS(on)可以获得降低。特别是英飞凌的CoolMOS在1998年推出到现在,一直都是深受业界肯定的,在过去三年期间己出货超过16亿颗 (註一)。
如前所述RDS(on)是由一连串的阻值加总所决定,其中有一部份是由Rsub所决定,而Rsub则和晶圆本身的掺杂浓度和厚度相关,藉由降低芯片本身厚度, 可以降低RDS(on)(导通阻抗),因此在近年来市场上也开始使用「晶圆减薄」技术来将晶圆的厚度降低。
对于第三点降低芯片的厚度,ProPowertek宜錦科技的「MOSFET晶圆后端工艺整合服务」,可以「晶圆减薄」。而「晶圆减薄」,要做到很薄、很精准的薄度是有技术门坎的。首先,针对要做到很薄,就有相当难度, 当晶圆减薄后,晶圆的边缘容易翘曲,而造成后续的工艺处理的困难,晶圆极可能因为翘曲,在传送时撞击而破片,或是无法因为翘曲而进行手动上片导致破片,为了克服此项难度,ProPowertek宜锦科技使用太鼓技术(Taiko),透过局部的精密研磨,将旁边留下太鼓环,此太鼓环类似于鼓框,将晶圆边缘支撑住,使得晶圆不会翘曲。而目前减薄到50微米(um) 工艺已为多家客户进行量产,良率亦可达到99.5%。目前针对太鼓技术37.5微米(um)也己开始进行小量客户验证及测试中、25微米(um) 工艺也己在进行工程研发及验证中。
而在要做到很「精准」的减薄数据,ProPowertek宜锦了解客户需求,要求晶圆减薄的数据来到100微米(um),和50微米(um),以达到降低RDS(on)(导通阻抗)的目标。为此,ProPowertek宜锦搭配蚀刻技术,将晶圆的总厚度分布(TTV, Total Thickness Variation) 精准控制在3微米(um),达到很好的均匀性。此外,我们也发现,在相同测试条件,及相同组件设计下,仅仅只是将晶圆厚度从100微米(um)降低到50微米(um),RDS(on)(导通阻抗)便可有效降低了19% (注二)。此种作法完全不须更改设计,或是晶圆代工厂和后段封装厂之生产条件。
图说: ProPowertek宜锦藉由晶圆减薄技术,将晶圆厚度从100微米(um)降低到50微米(um),立刻协助客户降低Power MOSFET的导通阻抗RDS(on) 19%。
观看15um晶圆减薄影像,请点选上方影片,若无法观看请点此连结: https://pse.is/Waferthintw
注一:满足MOSFET需求 英飞凌CoolMOS系列性价俱佳,赖品如,2018/6/27,https://www.digitimes.com.tw/tech/dt/n/shwnws.asp?CnlID=13&Cat=20&id=535181,2018/7/24 visited.
注二:此处仅为晶圆电性测试(CP, Chip probe)之结果,图中的比较为Normalize的结果
游先生 / Stan Yu
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