随5G、物联网、电动车蓬勃发展,对于低功耗要求越来越高,功率半导体成为这些产业势不可挡的必备组件。Propowertek宜锦宣布,成功开发晶圆减薄达1.5mil(38um)技术,通过客户肯定,技术门坎大突破。
但如何在减薄工艺中降低晶圆厚度,又同时兼顾晶圆强度,避免破片率居高不下之风险自晶圆减薄最大的风险。
为解决此风险,宜锦领先业界,已完成2mil(50um)、1.5mil(38um),甚至到0.4mil(10um)减薄技术开发,Propowertek宜锦更藉由特殊的优化工艺,在降低晶圆厚度的同时,也兼顾晶圆强度,可将研磨损伤层(Damage layer)降到最低
图说:使用控片测得2mil、1.5 mil、1.5 mil优化条件后的损坏层厚度及TEM分析
谢先生 / Felipe Hsieh
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